Microscópio AFM, Modelo XE7

Aplicações: Compreende: 1-Módulo completo de microscopia de força atômica para amostras pequenas e médias, 2 - Módulo para microscopia de força magnética (MFM), 3- Módulo para microscopia de modulação de força (FMM), 4- Módulo para microscopia de força eletrostática ((EFM), 5- Módulo para microscopia em célula aberta líquida, 6- Módulo de nanoindentação. Características: Sistema completo de microscopia de força atômica com sistema de varredura XY completamente dissociado do sistema de varredura em Z, com curvatura zero de fundo. Natureza: Importado. Ano de aquisição: 2014.